Xi X.X., Tantawi S., Lee N., Kustom R.L., Tan T., Wolak M.A., Withanage W.K., Nassiri A., Welander P.B., Franzi M.
Ключевые слова: MgB2, films, HPCVD process, substrates, disks, Cu-based conductors, fabrication
Ключевые слова: MgB2, thin films, supporting structure, buffer layers, pinning, critical caracteristics, microstructure, Jc/B curves, pinning force
Ключевые слова: MgB2, thin films, buffer layers, substrate sapphire, fabrication, microstructure, PLD process, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning force
Ключевые слова: HTS, REBCO, PLD process, substrate SrTiO3, thickness dependence, critical current density, temperature dependence, Jc/B curves, microstructure
Chung K.C., Kim H.S., Park C., Oh S.S., Ha H.S., Lee N.J., Jang S.H., Moon S.H., Youm D.J., Min C.H.
Ключевые слова: HTS, REBCO, IBAD process, coated conductors, composition, buffer layers, thermal evaporation, co-evaporation process, microstructure, fabrication
Ключевые слова: MgB2, films thick, substrate sapphire, defects columnar, grain size, pinning force, microstructure, experimental results
Kim H.S., Youm D., Yoo J., Ha H.S., Ha D.W., Song K.J., Ko R.K., Oh S., Lee N.J., Moon S.H., Yoo S.I., Yang J.S., Kim T.H., Kim H.K., Ko K.P., Yu K.K.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, RABITS process, IBAD process, co-evaporation process, long conductors, fabrication, composition, microstructure, critical current density, oxygenation treatments, heat treatment, current-voltage characteristics, Jc/B curves, YBCO, PLD process, angular dependence, presentation, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.